X荧光测厚仪UTX600B |
| X荧光测厚仪 |
2008-8-15 9:15:32 |
咨询电话：010-51650488 | |
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性价比绝佳的X荧光测厚仪
完美的检测性能指标
XYZ三维移动样品台，镭射对焦，
操作简单
人性化软件蚧面设计，易学易懂， 更方便人员操作 | | |
| 主要应用范围： 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量 镀液分析、黄金等贵金属鉴定 |
| X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 |
探测器： 正比计数器 |
| 滤光器： 一次滤光 |
样品观察： CCD高精度彩色摄像头 |
| 准直器： Ф3mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选 |
| 对焦系统： 利用旋钮视觉对角 |
测量方向： 从上向下 |
| 样品台： 固定测量台，XY可移动样品台 |
可测元素： K到U |
测试时间： 镀层厚度：10-100s
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元素含量：60-300s |
元素含量分析指标：分析范围：100PPM-99.99%
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准确度：5% |
| 精确度：0.1% |
检出限：100PPM |
| 镀层厚度的检测指标：准确度：第一层5%，第二层10%精确度：0.1% |
| 检出限：0.01μm |
测试软件： 基本参数法 |
| 定性功能： 自动标示存在元素 |
报告结果： 自动生成 |
| 定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 |
| 数据处理： MS-EXCEL | | | |
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