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主要应用范围： RoHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量 |
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镀液分析、黄金等贵金属鉴定 |
探测器： 硅锂半导体探测器 |
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X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 |
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滤光器： 一次滤光 |
样品观察： CCD高精度彩色摄像头 |
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准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选 |
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对焦系统： 激光对焦 |
测量方向： 从上向下 |
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样品台： 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，程控样品台，固定样品台) |
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可测元素： K到U |
测试时间： 镀层厚度：10-100s |
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元素含量：60-300s |
元素含量分析指标：分析范围：1PPM-99.99% |
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准确度：5% |
精确度：0.1% |
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检出限：1PPM |
镀层厚度的检测指标：准确度：第一层5%，第二层10% |
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精确度：0.1% |
检出限：0.01μm |
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测试软件： 基本参数法 |
定性功能： 自动标示存在元素 |
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定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 |
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报告结果： 自动生成 |
数据处理： MS-EXCEL |
