UTX750 X荧光光谱仪(测厚仪,RoHS检测仪)
UTX750 X荧光光谱仪性能特点
·完美的检测性能指标
·多种准直器和滤光机制可供选择
·简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单
·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作
·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性
元素含量
分析指标 |
分析范围：1PPM-99.99% 准确度：相对误差5%以内
精密度：相对标准差5%以内 检出限：1PPM |
测试软件 |
基本参数法 |
| X光管 |
50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 |
对焦系统 |
镭射对焦 |
| 探测器 |
硅锂半导体探测器 |
测量方向 |
从上向下 |
| 滤光器 |
一次滤光 |
样品台 |
简易手动样品台，Z轴升降调节，操作简单
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| 准直器 |
Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、1mm、Ф0.5mm、
Ф0.2mm、Ф0.1mm，multi- collimators Options |
可测元素 |
k到U |
| 定性功能 |
自动标示存在元素 |
定量功能 |
出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 |
| 样品观察 |
CCD高精度彩色摄像头 |
测试时间 |
60-300秒 |
| 软件 |
RoHS软件，镀层测厚软件 |
配套 |
标准液体测量杯 |
| 稳压系统 |
UPS稳压电源 |
数据处理 |
MS-Word |
| 电脑 |
联想电脑 |
重量 |
80千克 | |